申请/专利权人：华中科技大学

申请日：2024-03-06

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117830565A

主分类号：G06T17/20

分类号：G06T17/20;A61B5/00;G06N20/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：本发明公开一种多算子自监督荧光分子断层成像方法及系统，涉及分子影像技术领域，该方法包括确定目标模型的若干个不相交的源探对集合，并获取每一源探对集合对应的表面荧光分布，将任一表面荧光分布及其对应的荧光灵敏度算子输入到荧光分子断层成像模型中，得到三维重建结果；荧光分子断层成像模型由荧光灵敏度算子损失函数训练得到；荧光灵敏度算子损失函数由所有表面荧光分布以及每一表面荧光分布对应的荧光灵敏度算子确定。本发明可直接利用实验数据进行训练，解决了荧光分子断层成像难以获取训练数据的问题。且本发明的重建结果重建伪影少，定位更精准，提高了荧光分子断层成像的重建质量。

主权项：1.一种多算子自监督荧光分子断层成像方法，其特征在于，包括：对位于目标模型上的光源和探测器进行划分，得到若干个源探对集合；两两源探对集合之间不相交；对于每一所述源探对集合，获取所述源探对集合对应的表面荧光分布，得到表面荧光分布集；对于所述表面荧光分布集中的每一所述表面荧光分布，根据所述表面荧光分布确定所述表面荧光分布对应的荧光灵敏度算子；将中心表面荧光分布和所述中心表面荧光分布对应的荧光灵敏度算子输入到荧光分子断层成像模型中，重建得到所述目标模型的在体荧光分布三维重建结果；所述中心表面荧光分布为表面荧光分布集中任一表面荧光分布；所述荧光分子断层成像模型由荧光灵敏度算子损失函数训练得到；所述荧光灵敏度算子损失函数由所述表面荧光分布集中所有所述表面荧光分布以及每一所述表面荧光分布对应的荧光灵敏度算子确定。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 华中科技大学 一种多算子自监督荧光分子断层成像方法及系统

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