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【发明公布】耦合器结构优化方法_中国科学院半导体研究所_202410086280.6 

申请/专利权人:中国科学院半导体研究所

申请日:2024-01-22

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117872588A

主分类号:G02B27/00

分类号:G02B27/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本公开提供一种耦合器结构优化方法,涉及集成光电子器件设计领域,其包括:确定耦合器耦合区中每个波导对应边线的多个离散的初始控制点;将每个波导边线上对应的多个初始控制点进行拟合,形成初始边线;采用第一相关运算,分别对多个初始控制点进行优化,得到多个目标控制点,采用第二相关运算将多个目标控制点拟合成平滑的目标边线,得到每个波导的目标形状。本公开在绝热耦合器的基础上采用逆向设计的方法,将伴随优化算法与B样条曲线形状优化相结合,进一步优化波导的形状,使得器件具有更小的尺寸,更高的带宽,更小的制造精度要求,并且对制造误差具有较大的容忍度。

主权项:1.一种耦合器结构优化方法,其特征在于,包括:确定耦合器耦合区中每个波导对应边线的多个离散的初始控制点;将每个所述波导边线上对应的多个初始控制点进行拟合,形成初始边线;采用第一相关运算,分别对多个所述初始控制点进行优化,得到多个目标控制点,采用第二相关运算将所述多个目标控制点拟合成平滑的目标边线,得到每个所述波导的目标形状。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院半导体研究所 耦合器结构优化方法

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