申请/专利权人：力合科技(湖南)股份有限公司

申请日：2023-12-29

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117871573A

主分类号：G01N23/223

分类号：G01N23/223

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本发明公开了一种X射线荧光光谱修正方法及系统、分析仪、设备、介质，其先基于相同的激发光能量分别获取出厂时测试空白载体得到的参考谱图和周期修正时测试空白载体得到的待修正谱图，然后对参考谱图和待修正谱图分别进行积分计算后得到第一荧光产额和第二荧光产额，即可基于第一荧光产额和第二荧光产额计算得到修正系数，该修正系数即表征了X射线管的衰减程度，最后基于修正系数对仪器测试过程中各元素的荧光产额进行修正，从而根据X射线管的衰减程度对实际检测结果进行荧光强度修正，保证了仪器长期运行过程中的数据准确性，并且可实现多种待测元素的荧光强度精准修正。

主权项：1.一种X射线荧光光谱修正方法，其特征在于，包括以下内容：基于相同的激发光能量范围分别获取参考谱图和待修正谱图，其中，参考谱图是仪器出厂时测试空白载体所获得的X射线荧光光谱图，待修正谱图是仪器进行周期修正时测试空白载体所获得的X射线荧光光谱图；基于参考谱图和待修正谱图分别计算得到第一荧光产额和第二荧光产额；基于第一荧光产额和第二荧光产额计算得到修正系数；利用修正系数对测试过程中各元素的荧光产额进行修正，得到修正后的元素浓度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 力合科技(湖南)股份有限公司 X射线荧光光谱修正方法及系统、分析仪、设备、介质

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