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【发明公布】一种晶粒坐标排序方法及系统_视睿(杭州)信息科技有限公司_202410269296.0 

申请/专利权人:视睿(杭州)信息科技有限公司

申请日:2024-03-11

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117871416A

主分类号:G01N21/01

分类号:G01N21/01;G01N21/95;H01L21/66;H01L21/67

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本申请公开的一种晶粒坐标排序方法及系统,所述方法包括以下步骤:按照预设的折返式扫描轨迹扫描整待测料片,进行图像采集,得到一系列局部含小料的拍摄图像;并将采集到的拍摄图像进行分发;根据预设模板,对图片进行定位小料和缺陷检测,然后根据缺陷检测结果,按照缺陷类型对图片进行分选;根据分选结果以及预设扫描轨迹,采用八邻域方式对晶粒进行排序,并输出排序结果。所述系统包括:图像采集模块、检测模块、排序模块。本申请预设的折返式扫描轨迹可提高图像采集的效率,通过针对单行或单列拍摄的所有图片上小料进行八邻域排序,然后对多行实现八邻域方式的拼接,可有效提高排序效率。

主权项:1.一种晶粒坐标排序方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:按照预设扫描轨迹拍摄整张待测料片,进行图像采集,得到一系列含小料的拍摄图像;并将含小料的拍摄图像进行分发;根据预设模板,对分发后的含小料的拍摄图像进行小料定位和缺陷检测,然后根据缺陷检测结果,按照缺陷类型对含小料的拍摄图像进行分选;根据分选结果以及预设扫描轨迹,采用八邻域方式对晶粒进行坐标排序,并输出排序结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 视睿(杭州)信息科技有限公司 一种晶粒坐标排序方法及系统

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