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【发明公布】硅基负极的固态荧光成像表征方法_清华大学_202410045820.6 

申请/专利权人:清华大学

申请日:2024-01-12

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117871489A

主分类号:G01N21/64

分类号:G01N21/64;C09K11/06;G01N21/01

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本申请涉及一种硅基负极的固态荧光成像表征方法。硅基负极的固态荧光成像表征方法包括以下步骤:使荧光探针分子与硅基负极中的锂硅合金反应,形成含有锂基荧光化合物的硅基负极;对所述含有锂基荧光化合物的硅基负极进行固态荧光成像表征;其中,所述荧光探针分子具有如通式Ⅰ所示的结构,Ar上的羟基位于亚胺基的邻位;Ar每次出现,各自独立地包括取代或未取代的芳基,或者取代或未取代的杂芳基。该表征方法可分析出硅基负极的荷电状态、锂硅合金分布、硅涂层裂纹缺陷、锂沉积颗粒等关键信息,从而为诊断硅基负极的界面状态、电池循环稳定性和安全性提供参考,有利于开发下一代高能量密度的锂硅电池。

主权项:1.一种硅基负极的固态荧光成像表征方法,其特征在于,包括以下步骤:使荧光探针分子与硅基负极中的锂硅合金反应,形成含有锂基荧光化合物的硅基负极;对所述含有锂基荧光化合物的硅基负极进行固态荧光成像表征;其中,所述荧光探针分子具有如通式Ⅰ所示的结构: Ar上的羟基位于亚胺基的邻位;Ar每次出现,各自独立地包括取代或未取代的芳基,或者取代或未取代的杂芳基。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 清华大学 硅基负极的固态荧光成像表征方法

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