申请/专利权人：株式会社日本显示器

申请日：2023-10-11

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117881241A

主分类号：H10K59/131

分类号：H10K59/131;H10K71/70

优先权：["20221012 JP 2022-164001"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本发明涉及计测方法及计测装置。实施方式涉及的计测方法具备：形成具有配置于基材的第1面侧的下部和从下部的侧面突出的上部的隔壁；获取通过从基材的第1面侧或与基材的第1面相反的第2面侧照射电磁波而生成的包含隔壁的第1图像；对所获取的第1图像进行分析；和基于分析的结果，对上部的端部从下部的侧面突出的突出量进行计测。

主权项：1.计测方法，其具备：形成具有配置于基材的第1面侧的下部和从所述下部的侧面突出的上部的隔壁；获取通过从所述基材的第1面侧或与所述基材的第1面相反的第2面侧照射电磁波而生成的包含所述隔壁的第1图像；对所述获取的第1图像进行分析；和基于所述分析的结果，对所述上部的端部从所述下部的侧面突出的突出量进行计测。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 株式会社日本显示器 计测方法及计测装置

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