申请/专利权人：上海卫星装备研究所

申请日：2023-12-22

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117870539A

主分类号：G01B11/00

分类号：G01B11/00;G01B11/26

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本发明提供了一种真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置及方法。所述精度测量装置包括真空低温环境模拟设备、光学测试窗口、无转角限制转台、36面棱体、光电自准直仪、隔振台；所述的无转角限制转台是角位置测量的待测试设备；所述36面棱体的中心线与所述无转角限制转台的转轴同轴布置；测试时，光电自准直仪所发出的光线与真空低温环境模拟设备上的光学测试窗口同心；且光电自准直仪所发出的光线与36面棱体所具有的一个棱面法线重合。本发明解决了无转角限制转台在真空低温环境中难以评估角位置精度的问题，定量给出了无转角限制转台在空间遥感探测载荷定标测试中的误差量，提升了空间遥感探测载荷定量化应用水平。

主权项：1.一种真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置，其特征在于，包括真空低温环境模拟设备1、光学测试窗口2、无转角限制转台3、36面棱体4、光电自准直仪5、隔振台6；所述的无转角限制转台3是角位置测量的待测试设备；光电自准直仪5与真空低温环境模拟设备1均安装在隔振台6上，所述36面棱体4与被测的无转角限制转台3均位于所述真空低温环境模拟设备1内，所述的36面棱体4安装在无转角限制转台3的转轴上，且所述36面棱体4的中心线与所述无转角限制转台3的转轴同轴布置；所述的光学测试窗口2位于真空低温环境模拟设备1上；所述的光电自准直仪5设置在真空低温环境模拟设备1外，且位于光学测试窗口2正前方；测试时，光电自准直仪5所发出的光线与真空低温环境模拟设备1上的光学测试窗口2同心；且光电自准直仪5所发出的光线与36面棱体4所具有的一个棱面法线重合。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海卫星装备研究所 真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置及方法

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