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【发明授权】基于光子计数能谱CT的含能材料等效原子序数测量方法_西北工业大学_202011120012.X 

申请/专利权人:西北工业大学

申请日:2020-10-19

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN112304987B

主分类号:G01N23/046

分类号:G01N23/046;G01T1/36

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.12#授权;2021.02.23#实质审查的生效;2021.02.02#公开

摘要:本发明提供一种基于光子计数能谱CT的含能材料等效原子序数测量方法。该方法只需利用光子计数能谱CT对待测样品和3种已知材料的标定物进行CT扫描重建,进而由低、高能量区间CT图像的相对比值图像拟合出等效原子序数与相对比值的关系曲线,利用该关系曲线即可进一步计算得到待测样品和标定物的等效原子序数图像。该方法不依赖于光子计数能谱CT的专业知识,实施简便,具有很好的鲁棒性和通用性,可以大大降低现有方法的设备要求和算法复杂度。

主权项:1.一种基于光子计数能谱CT的含能材料等效原子序数测量方法,其特征在于包括下述步骤:步骤1:获取3个材质组成已知的标定物的等效原子序数Zk,eff,k为标定物序号,设第k个标定物由原子序数为Z1,Z2,…,Zn的原子组成,其等效原子序数表示为 其中ai为标定物中第i种原子的质量百分比,Ai为第i种原子的原子质量,ni为第i种原子的原子数目,Zi为第i种原子的原子序数;步骤2:利用光子计数能谱CT,将待测样品和3个标定物同时进行CT扫描,并重建低能区CT图像SLx,y和高能区CT图像SHx,y;步骤3:将SLx,y除以SHx,y,得到待测样品和标定物的相对比值图像SRx,y;步骤4:利用标定物的等效原子序数Zk,eff及其相对比值,拟合等效原子序数与相对比值的关系曲线R为相应标定物在SRx,y中的相对比值,a、b、c为关系曲线参数;步骤5:利用SRx,y和步骤4的关系曲线R,计算得到待测样品和标定物的等效原子序数图像其中a、b、c的取值与步骤4中相同。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西北工业大学 基于光子计数能谱CT的含能材料等效原子序数测量方法

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