申请/专利权人：乐金显示有限公司

申请日：2020-05-09

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN112018136B

主分类号：H01L27/146

分类号：H01L27/146;A61B6/50;G01N23/04

优先权：["20190529 KR 10-2019-0063434"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2020.12.18#实质审查的生效;2020.12.01#公开

摘要：提出了一种数字X射线检测仪、数字X射线检测装置及其制造方法。所述数字X射线检测仪包括：基础衬底，包括有源区域以及GIP面板内栅极区域，所述有源区域包括多个像素区域，所述GIP区域位于所述有源区域的至少一个侧面区域中；PINP型半导体‑本征型半导体‑N型半导体二极管，设置在所述有源区域中并且在所述基础衬底的上方；GIP驱动器，设置在所述GIP区域中并且在所述基础衬底的上方；以及闪烁体层，设置在所述PIN二极管和所述GIP驱动器的上方，以覆盖所述有源区域和至少一部分所述GIP区域。本发明能够在将边框尺寸最小化的同时将X射线对驱动器的损坏最小化。

主权项：1.一种数字X射线检测仪，包括：基础衬底，包括：有源区域，所述有源区域包括多个像素区域；以及GIP面板内栅极区域，所述GIP区域位于所述有源区域的至少一个侧面区域中；PINP型半导体-本征型半导体-N型半导体二极管，设置在所述有源区域中并且在所述基础衬底的上方；GIP驱动器，设置在所述GIP区域中并且在所述基础衬底的上方；以及闪烁体层，设置在所述PIN二极管和所述GIP驱动器的上方，以覆盖所述有源区域和至少一部分所述GIP区域，其中，所述GIP驱动器包括晶体管区域和信号线区域，其中，所述晶体管区域比所述信号线区域更靠近所述有源区域，其中，所述闪烁体层覆盖到所述晶体管区域。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 乐金显示有限公司 数字X射线检测仪、数字X射线检测装置及其制造方法

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