申请/专利权人：上海航天电子通讯设备研究所

申请日：2020-08-27

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN111948617B

主分类号：G01S7/40

分类号：G01S7/40

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2020.12.04#实质审查的生效;2020.11.17#公开

摘要：本发明涉及航天微波无源遥感辐射计技术领域，提供了一种反射面天线微波发射率测试方法及其测试系统，其方法包括：通过反射面天线接收天空辐射信号；通过喇叭天线，将反射面天线接收的天空辐射信号与反射面天线自身的天线热辐射信号收集起来；通过微波辐射计，将喇叭天线收集的辐射信号转换成电压信号；通过数据采集单元，采集微波辐射计输出的电压以及反射面天线的温度数据；改变反射面天线的物理温度，采集在不同物理温度下的微波辐射计的输出电压，根据微波遥感理论推算得到反射面天线的微波发射率。基于被动微波遥感理论，通过改变反射面天线物理温度，测量微波辐射计输出变化，间接测试反射面天线发射率。

主权项：1.一种反射面天线微波发射率测试方法，其特征在于，包括以下步骤：通过反射面天线接收天空辐射信号；通过喇叭天线，将所述反射面天线接收的所述天空辐射信号与所述反射面天线自身的天线热辐射信号收集起来；通过微波辐射计，将所述喇叭天线收集的辐射信号转换成电压信号；通过数据采集单元，采集所述微波辐射计输出的电压以及所述反射面天线的温度数据；改变所述反射面天线的物理温度，采集在不同物理温度下的所述微波辐射计的输出电压，根据微波遥感理论推算得到所述反射面天线的微波发射率，具体为：1测量所述反射面天线的物理温度为TP1时，所述数据采集单元采集到的所述微波辐射计的输出电压V1，根据微波遥感理论得到：V1＝KGBT1+TsysT1＝n[1-εTSKY+εTP1]+1-nTSKY其中，K为波尔兹曼常数；G为所述微波辐射计各通道链路净增益，是所述微波辐射计的固有参数；B为所述微波辐射计各通道带宽，单位Hz，是所述微波辐射计固有参数；T1为所述喇叭天线接收到的辐射亮温，单位K；Tsys为所述微波辐射计噪声温度，单位K；n为所述反射面天线的截获效率，定义为所述反射面天线所截获能量占所述喇叭天线辐射能量之比；TSKY为天空辐射亮温，单位K；ε为所述反射面天线的微波发射率；2测量所述反射面天线的物理温度为TP2时，所述数据采集单元采集到的所述微波辐射计的输出电压V2，根据微波遥感理论得到：V2＝KGBT2+TsysT2＝n[1-εTSKY+εTP2]+1-nTSKY3根据上述测试数据，得到所述反射面天线的微波发射率为：

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海航天电子通讯设备研究所 一种反射面天线微波发射率测试方法及其测试系统

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