申请/专利权人：合利科技发展有限公司

申请日：2023-07-26

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN220773158U

主分类号：G01R19/00

分类号：G01R19/00;G01R1/28;G01R15/24

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权

摘要：本实用新型公开了一种相位调制器半波电压测试系统，所述系统依次设有窄线宽激光器、相位调制器、FP干涉仪、光电探测器、示波器，所述相位调制器的输入端还连接有信号发生器，所述FP干涉仪的输入端还连接有干涉仪控制器；本实用新型的优点在于：通过调节信号发生器输出正弦信号幅值，可以使得相位调制器输出光谱中心波长或这某一阶边带幅值为0，避免了光源相位对测量结果的影响，实现半波电压的稳定测量。

主权项：1.一种相位调制器半波电压测试系统，其特征在于：所述系统依次设有窄线宽激光器、相位调制器、FP干涉仪、光电探测器、示波器，所述相位调制器的输入端还连接有信号发生器，所述FP干涉仪的输入端还连接有干涉仪控制器。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 合利科技发展有限公司 一种相位调制器半波电压测试系统

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