申请/专利权人：华中科技大学

申请日：2024-01-30

公开（公告）日：2024-04-23

公开（公告）号：CN117647762B

主分类号：G01R33/10

分类号：G01R33/10;G01R33/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.23#授权;2024.03.22#实质审查的生效;2024.03.05#公开

摘要：本发明属于电磁测量技术领域，具体公开了一种测量电磁体磁场空间位型分布的方法，该方法包括以下步骤：向电磁体中通入电流产生待测磁场；分别测量电磁体外和或电磁体内至少一个点位处的第一磁感应强度；获取被测点位处对应的第一磁感应强度与第一磁感应强度相关的工作电流间的第一比值；基于第一比值获取待测磁场的空间位型分布。本发明能实现电磁体磁场空间位型的精确测量。

主权项：1.一种测量电磁体磁场空间位型分布的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1向电磁体中通入电流产生待测磁场；S2分别测量电磁体外和或电磁体内至少一个点位处的第一磁感应强度：在电流通入的特定连续工作时间段内测量所述第一磁感应强度，所述特定连续工作时间段的开始时刻为电流通入电磁体中1μs后，所述特定连续工作时间段的结束时刻为电流结束前1μs；S3获取被测点位处对应的所述第一磁感应强度与第一磁感应强度相关的工作电流间的第一比值；S4基于所述第一比值获取待测磁场的空间位型分布：基于第一比值，利用插值法或曲线拟合法获取待测磁场的空间位型分布；获取待测磁场的空间位型分布的方法还包括：基于第一磁感应强度，通过插值法获取相邻两个点位之间的第二磁感应强度，并计算第二磁感应强度与所述工作电流间的第二比值，然后基于第一比值和第二比值，利用插值法或曲线拟合法获取磁场空间位型。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 华中科技大学 一种测量电磁体磁场空间位型分布的方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD