申请/专利权人：日东电工株式会社

申请日：2019-11-27

公开（公告）日：2024-04-23

公开（公告）号：CN112805532B

主分类号：G01B11/24

分类号：G01B11/24

优先权：["20181129 JP 2018-223287"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.23#授权;2021.12.07#实质审查的生效;2021.05.14#公开

摘要：用支承装置来支承圆形的光学膜的中心部，通过配置于从该光学膜的中心部向径向外侧偏离的位置的测定装置来测定该测定装置自身与以所述中心部为原点的圆周上的各处之间的距离，基于由测定装置测定出的距离来导出表示光学膜的卷曲的卷曲信息。

主权项：1.一种光学膜的卷曲的分析方法，使支承装置支承作为卷曲的分析对象的圆形的光学膜的中心部，将测定上下方向上到所述光学膜的距离的测定装置配置在被所述支承装置支承着的所述光学膜的上方或者下方且从所述中心部向所述光学膜的径向外侧偏离的位置，通过使所述支承装置所支承着的所述光学膜以通过所述光学膜的所述中心部且沿所述上下方向延伸的纵轴线为中心来旋转、或者使所述测定装置沿着以所述纵轴线为中心的周向移动，来通过所述测定装置在作为从所述光学膜的中心部向径向外侧偏离的位置的、以所述光学膜的中心为原点的圆周上的各位置处测定所述距离，基于由所述测定装置测定出的所述距离，来导出表示所述光学膜的卷曲的状态的卷曲信息。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 日东电工株式会社 光学膜的卷曲的分析方法和分析装置

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