申请/专利权人：北京微电子技术研究所;北京时代民芯科技有限公司

申请日：2023-11-22

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117892662A

主分类号：G06F30/33

分类号：G06F30/33;G06F30/3308;G06F30/367;G06F115/12

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要：本发明属于电路仿真领域，具体涉及了一种IBIS模型准确度确定方法及系统，旨在解决现有的IBIS模型准确度确定不够全面客观的问题。本发明包括：选取对IBIS模型精度具有影响的特征参数；根据特征参数，基于模糊层次分析法构建IBIS模型对应的验证系统，作为IBIS模型验证系统；基于IBIS模型的引脚构建仿真电路并运行，得到IBIS模型的仿真波形；对待验证器件进行测试或对待验证器件进行SPICE仿真，得到对比波形；对仿真波形和所述对比波形进行比较，得到二者的特征参数差异值；将差异值输入到IBIS模型验证系统，得到IBIS模型的准确度。本发明能够科学的确定出IBIS模型的精确度。

主权项：1.一种IBIS模型准确度确定方法，其特征在于，所述方法包括：构建待验证器件的IBIS模型，选取对所述IBIS模型的精度具有影响的特征参数；根据所述特征参数，基于模糊层次分析法构建所述IBIS模型对应的验证系统，作为IBIS模型验证系统；在仿真工具中，基于所述待验证器件的IBIS模型的引脚构建仿真电路并运行，得到所述验证器件的IBIS模型的仿真波形；对所述待验证器件进行测试或对所述待验证器件进行SPICE仿真，得到对比波形；对所述仿真波形和所述对比波形进行比较，得到二者的特征参数差异值；将所述特征参数差异值输入到所述IBIS模型验证系统，得到所述IBIS模型的准确度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京微电子技术研究所;北京时代民芯科技有限公司 IBIS模型准确度确定方法及系统

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