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【发明公布】具有氢扩散阻挡层的竖直非易失性存储器件及其制造方法_三星电子株式会社_202310700094.2 

申请/专利权人:三星电子株式会社

申请日:2023-06-13

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN117896988A

主分类号:H10B43/50

分类号:H10B43/50;H10B43/27;H10B41/50;H10B41/27

优先权:["20221013 KR 10-2022-0131564"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.04.16#公开

摘要:竖直非易失性存储器件可以包括:外围电路部分,包括存储单元驱动电路和连接布线;第一氢扩散阻挡层,位于外围电路部分上方;第一绝缘层,位于第一氢扩散阻挡层上方;公共源极线层,位于第一绝缘层上方;第二氢扩散阻挡层,位于第一绝缘层上方;以及存储单元堆叠结构,位于公共源极线层和第二氢扩散阻挡层上方。

主权项:1.一种竖直非易失性存储器件,包括:外围电路部分,包括存储单元驱动电路和连接布线;第一氢扩散阻挡层,位于所述外围电路部分上方;第一绝缘层,位于所述第一氢扩散阻挡层上方;公共源极线层,位于所述第一绝缘层上方;第二氢扩散阻挡层,位于所述第一绝缘层上方;以及存储单元堆叠结构,位于所述公共源极线层和所述第二氢扩散阻挡层上方。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 三星电子株式会社 具有氢扩散阻挡层的竖直非易失性存储器件及其制造方法

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