申请/专利权人：北京理工大学

申请日：2024-02-01

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117890875A

主分类号：G01S7/41

分类号：G01S7/41

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要：本发明针对在复杂目标的远场测量问题，提出了一种减小测量杂波的近场外推RCS测试方法。本发明在近场测试中，使用金属地面测试环境对目标的近场进行测量，降低测试环境的不确定性和未知散射源的影响；然后，在快速非规则天线场变化算法中，考虑金属地面带来的等效镜像源对近场场值的转移计算，并在外推远场计算环节，消除镜像源对远场场值的影响，最终得到无金属平面条件下的近似RCS结果。

主权项：1.一种减小测量杂波的近场外推RCS测试方法，其特征在于：包括四个步骤，步骤1、平面波综合，用于在室内近场区域获得由多个发射天线Tx的辐射场综合而成的平面波激励；步骤2、确定近场外推平面波谱的盒子尺寸与非空盒子数，用于确定近场外推计算所需的参数，为近场外推计算做准备；步骤3、含镜像源的无限大金属平面上的近场外推计算，用于求解不受金属平面影响的远场电场场值；步骤4、除去镜像源的近场外推RCS合成，用于将远场电场场值转化为无金属平面条件下的近似RCS结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京理工大学 一种减小测量杂波的近场外推RCS测试方法

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