申请/专利权人：哈尔滨工程大学

申请日：2023-12-27

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117889769A

主分类号：G01B11/16

分类号：G01B11/16;G06T5/50;G06T3/4038

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要：小视场下基于2D‑DIC的平面细长区域全场变形测量方法和装置，属于变形测量技术领域，解决变形测量精度低、成本较高以及系统复杂问题。本发明的方法包括：在视场受限的环境中使用虚拟相机阵列采集平面细长区域的全景图像；通过双反射镜平面外运动补偿、系统静态误差补偿以及适配的图像拼接与融合算法实现高精度的应变场测量；使用基于子集相关性和频域移位定理的亚像素补偿法寻找准确的拼接位置，实现高精度图像拼接并获得高分辨率图像；用正弦三角函数来代替传统淡入淡出法融合函数的线性权重曲线，消除了曲线在重叠区域边界位置产生的第二类不连续点。本发明使得2D‑DIC能够有效地应用于小视场下平面细长区域的高分辨率、高精度应变场测量当中。

主权项：1.一种小视场下基于2D-DIC的平面细长区域全场变形测量方法，其特征在于，所述方法包括：步骤1：选取测试表面为平面的试样，在试样表面制作符合随机性要求的散斑纹理后置于测试机上，同时，安装双反射镜成像系统和虚拟相机阵列采集系统构成完整的实验装置；步骤2：对虚拟相机阵列采集到的试样前后表面不同区域的散斑图像进行拼接与融合获得全景图像；步骤3：分别对试样每个表面的全景图像进行2D-DIC计算得到高分辨率的位移场；步骤4：通过预实验测量试样的静态位移误差；步骤5：对步骤3的位移场进行双反射镜离面运动误差补偿和静态误差补偿，获得位移场和应变场。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 哈尔滨工程大学 小视场下基于2D-DIC的平面细长区域全场变形测量方法和装置

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