申请/专利权人：广东微容电子科技有限公司

申请日：2023-02-16

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN116359127B

主分类号：G01N21/01

分类号：G01N21/01;G01N21/88;G01N21/95;B25B11/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权;2023.07.18#实质审查的生效;2023.06.30#公开

摘要：本申请提出了一种磁检装置及磁检方法，用于检验电性元件，电性元件包括陶瓷主体以及依次叠设于陶瓷主体内的多层内电极，内电极中镍占比大于50％；该磁检装置包括载物台、电磁铁以及放大镜组件；载物台提供设有检验区域的承载面，检验区域用于放置电性元件；电磁铁设置于承载面的第一侧，沿垂直于承载面的方向，检验区域的正投影落入电磁铁的有效磁感应区的正投影内。放大镜组件设置于承载面的第二侧，第二侧与第一侧相对设置，放大镜组件的可观察视野大于检验区域。本申请通过一次操作即可对所有产品外观进行检验，有利于提高对MLCC等电性元件的外观检验的效率和准确性，还可以减少人为因素对MLCC等电性元件造成的损伤。

主权项：1.一种磁检方法，其特征在于，基于磁检装置进行检验，所述磁检装置包括载物台、电磁铁及放大镜组件，所述载物台提供设有检验区域的承载面，所述检验区域用于放置电性元件，所述电性元件包括陶瓷主体及依次叠设于所述陶瓷主体内的多层内电极，所述内电极中镍占比大于50％；所述电磁铁设置于所述承载面的第一侧，沿垂直于所述承载面的方向，所述检验区域的正投影落入所述电磁铁的有效磁感应区的正投影内；所述放大镜组件设置于所述承载面的第二侧，所述第二侧与所述第一侧相对设置，所述放大镜组件的可观察视野大于所述检验区域；所述磁检方法包括：将待检验的多个电性元件放置于载物台的承载面的检验区域；对电磁铁通电，并通过第一磁场方向控制所述多个电性元件为第一排布状态；调整放大镜组件以使其可观察视野覆盖所述检验区域，以通过所述放大镜组件的可观察视野观察检验所述多个电性元件。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 广东微容电子科技有限公司 一种磁检装置及磁检方法

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