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【实用新型】一种CPU性能测试用上模头_苏州中芯长宏半导体科技有限公司_202322142207.X 

申请/专利权人:苏州中芯长宏半导体科技有限公司

申请日:2023-08-10

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN220795326U

主分类号:G01R1/073

分类号:G01R1/073;G01R1/04;G01R31/00;H05K7/20

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.16#授权

摘要:本实用新型公开了一种CPU性能测试用上模头,涉及粉碎机技术领域,包括上模箱,所述上模箱的内部设置有冷却硅胶盒,且冷却硅胶盒的上端设置有导管,并且导管的内部插设有插杆,所述插杆的下端设置有活塞,所述冷却硅胶盒的下端四个角位置皆与弹性输管的上端相连接;本装置在上模箱的上端内壁中心位置设置有螺纹套,螺纹套的内部设置有第一螺纹杆,第一螺纹杆的下端与连接板相连接,连接板的下表面设置有连接块,连接块的下表面均匀设置有多组探针,通过转动第一螺纹杆,第一螺纹杆开始在螺纹套的内部进行上下移动,进一步的可以对连接块下表面的多组探针的位置进行调整,使得CPU上模头可以适用于不同类型的CPU。

主权项:1.一种CPU性能测试用上模头,其特征在于,包括:上模箱1,所述上模箱1的内部设置有冷却硅胶盒2,且冷却硅胶盒2的上端设置有导管3,并且导管3的内部插设有插杆4,所述插杆4的下端设置有活塞5,所述冷却硅胶盒2的下端四个角位置皆与弹性输管6的上端相连接,四组所述弹性输管6的下端皆与连接板7的上表面相连接,所述连接板7的下表面设置有连接块8,且连接块8的下表面均匀设置有多组探针9,所述上模箱1的上端内壁上设置有螺纹套10,且螺纹套10的内部设置有第一螺纹杆11,并且第一螺纹杆11的下端与连接板7的上表面相连接;固定块12,所述固定块12设置为上模箱1的内部,所述固定块12的内部设置有两组滑块13,且两组滑块13的下端皆与夹块14的上表面相连接,并且两组夹块14的内壁上皆设置有两组弹性垫15,所述上模箱1的内部设置有第二螺纹杆16,且第二螺纹杆16上对称设置有两组衔接块17,所述第二螺纹杆16的一端与手摇轮18相连接,两组所述衔接块17的下端皆与夹块14的上表面相连接,两组左侧夹块14皆通过连接杆19与两组右侧夹块14相连接。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州中芯长宏半导体科技有限公司 一种CPU性能测试用上模头

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