申请/专利权人：哈尔滨理工大学

申请日：2024-01-30

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117907773A

主分类号：G01R31/12

分类号：G01R31/12

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要：本发明公开了一种可调衰减的局部放电测量系统及方法，该系统包括：依次设置的泵浦光源、波分复用器、DFB‑FL、单模光纤、可调衰减器以及FBG，所述波分复用器的输出端还连接有光电探测结构，所述波分复用器的公共端与所述DFB‑FL连接，所述DFB‑FL的后端接入设定长度的单模光纤，所述单模光纤的末端绕制成光纤环，并与所述可调衰减器连接，所述FBG作为光纤反射镜，用于将激光反射回DFB‑FL的谐振腔进行干涉，所述可调衰减器用于调节反射激光的强度。本发明同时使用DFB‑FL和单模光纤传感，提高DFB‑FL在局部放电声信号检测中的灵敏度，利用可调衰减器将反馈光调至合适强度，避免局放检测频段出现的噪声。

主权项：1.一种可调衰减的局部放电测量系统，其特征在于，包括：依次设置的泵浦光源、波分复用器、DFB-FL、单模光纤、可调衰减器以及FBG，所述波分复用器的输出端还连接有光电探测结构，所述波分复用器的公共端与所述DFB-FL连接，所述DFB-FL的后端接入设定长度的单模光纤，所述单模光纤的末端绕制成光纤环，并与所述可调衰减器连接，所述FBG作为光纤反射镜，用于将激光反射回DFB-FL的谐振腔进行干涉，所述可调衰减器用于调节反射激光的强度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 哈尔滨理工大学 一种可调衰减的局部放电测量系统及方法

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