申请/专利权人:吉林大学
申请日:2022-01-05
公开(公告)日:2024-04-26
公开(公告)号:CN114355428B
主分类号:G01T1/202
分类号:G01T1/202
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.04.26#授权;2022.05.03#实质审查的生效;2022.04.15#公开
摘要:本发明公开了一种研究闪烁体能量转换机理的方法,采用同步辐射光源实验测定块状单晶闪烁体样品的晶格结构,依据实验数据构建单晶闪烁体样品的计算模型,基于密度泛函理论计算出的所述块状单晶闪烁体样品的能带结构、电子密度、宇称等与光谱数据吸收谱,激发谱,发射谱相联系的方式,采用严密的逻辑分析对所述块状单晶闪烁体样品的发光机理可视化。本发明利用CsITl块状单晶闪烁体样品为例进行了理论计算与分析,验证了方法的可靠性。
主权项:1.一种研究闪烁体能量转换机理的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、从块状单晶闪烁体样品上磨取的块状单晶闪烁体的粉末样品用同步辐射X射线测得X射线吸收精细结构谱;步骤二、从所得到的用同步辐射X射线测得X射线吸收精细结构谱中提取所述块状单晶闪烁体样品的实际晶胞参数,元素排布信息,从而得到所述块状单晶闪烁体体系实际的晶格结构;步骤三、根据所述块状单晶闪烁体体系实际的晶格结构构建所述块状单晶闪烁体样品的计算模型;步骤四、采用第一性原理对所构建的所述块状单晶闪烁体样品的计算模型进行几何优化得到所述块状单晶闪烁体样品的几何优化模型;步骤五、运用密度泛函理论对所述块状单晶闪烁体样品的几何优化模型计算所述块状单晶闪烁体样品的能带结构,态密度,电子密度,波函数宇称,发射谱数据;步骤六、采用200nm-1100nm能量范围的X射线或γ射线或者近紫外光源、红外光源作为激发光源测量所述块状单晶闪烁体样品的吸收谱,激发谱,发射谱;步骤七、选取所述块状单晶闪烁体样品的发射谱中出现的峰值波长测量所述块状单晶闪烁体样品的衰减时间谱;步骤八、从所述块状单晶闪烁体样品的能带结构的数据中提取与所述块状单晶闪烁体样品的吸收谱、激发谱、发射谱各个峰位能量相对应的能量差△E;步骤九、根据所述块状单晶闪烁体样品的电子密度分析出所述块状单晶闪烁体样品的电子的空间几何排布并推测所述块状单晶闪烁体样品中闪烁光子发射的能量来源;步骤十、分析所述块状单晶闪烁体样品的波函数宇称,依据跃迁选择定则排除不能发生跃迁的布里渊区高对称点所对应的能级,最终确定所述块状单晶闪烁体样品中电子的跃迁路径;步骤十一、将最终确定所述块状单晶闪烁体样品中电子的跃迁路径与根据块状单晶闪烁体样品的电子密度分析出块状单晶闪烁体样品的电子的空间几何排布结合起来运用作图软件绘制出块状单晶闪烁体样品的发光机理示意图。
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权利要求:
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