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【发明授权】斜视SAR二维分辨率分析方法、电子设备及存储介质_北京航空航天大学_202211021926.X 

申请/专利权人:北京航空航天大学

申请日:2022-08-24

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN115291179B

主分类号:G01S7/40

分类号:G01S7/40;G01S13/90

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.26#授权;2022.11.22#实质审查的生效;2022.11.04#公开

摘要:本发明涉及信号处理技术领域,特别涉及一种斜视SAR二维分辨率分析方法、电子设备及存储介质,该方法包括:基于斜视SAR数据,得到对地平面投影后的点目标区成像结果;通过二维频域插值补零处理得到精度增强成像结果;确定点目标的地面方位向旁瓣和地面距离向旁瓣,及地面方位向夹角和地面距离向夹角的范围;分别通过拉东变换,计算地面方位向夹角和计算地面距离向夹角;分别通过旋转变换,将精度增强成像结果的地面方位向旁瓣方向旋转到垂直轴,将精度增强成像结果的地面距离向旁瓣方向旋转到水平轴;分别进行地面方位向分辨率分析和地面距离向分辨率分析。本发明能计算任意方位向斜视角度观测SAR图像中点目标的二维分辨方向和分辨率。

主权项:1.一种斜视SAR二维分辨率分析方法,其特征在于,包括:基于斜视SAR数据,得到对地平面投影后的点目标区成像结果;基于得到的所述点目标区成像结果,通过二维频域插值补零处理,得到精度增强成像结果;基于得到的所述精度增强成像结果,确定点目标的地面方位向旁瓣和地面距离向旁瓣,进而确定地面方位向夹角和地面距离向夹角的范围;其中,所述地面方位向夹角为地面方位向旁瓣方向与垂直轴的夹角,所述地面距离向夹角为地面距离向旁瓣方向与水平轴的夹角;基于所述精度增强成像结果和所述地面方位向夹角的范围,通过拉东变换,计算所述地面方位向夹角,基于所述精度增强成像结果和所述地面距离向夹角的范围,通过拉东变换,计算所述地面距离向夹角;通过旋转变换,将所述精度增强成像结果的地面方位向旁瓣方向旋转到垂直轴,提取垂直方向信号;对所述垂直方向信号进行一维频域插值补零处理,得到精度增强的地面方位向信号;基于所述地面方位向信号,进行地面方位向分辨率分析;通过旋转变换,将所述精度增强成像结果的地面距离向旁瓣方向旋转到水平轴,提取水平方向信号;对所述水平方向信号进行一维频域插值补零处理,得到精度增强的地面距离向信号;基于所述地面距离向信号,进行地面距离向分辨率分析。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京航空航天大学 斜视SAR二维分辨率分析方法、电子设备及存储介质

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