申请/专利权人：DH科技发展私人贸易有限公司

申请日：2020-01-31

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN113287186B

主分类号：H01J49/00

分类号：H01J49/00

优先权：["20190131 US 62/799,600"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.26#授权;2022.02.25#实质审查的生效;2021.08.20#公开

摘要：电子倍增检测器和图像电荷检测器的强度测量与电荷状态成比例。这些强度用于将检测到的离子分离到不同的数据集中，并根据所述不同的数据集创建质谱。离子测量通过使用i单个电子倍增检测器、ii单个图像电荷检测器或iii多个电子倍增ADC检测器基于电荷状态来分离。使用i，将从每个测量脉冲计算的峰的强度与预定的强度范围进行比较，并且将每个峰存储在相应的数据集中。使用ii，将每个测量的瞬态时域信号转换为频域峰，将每个频域峰的强度与预定的强度范围进行比较，并且将每个峰存储在相应的数据集中。使用iii，每个检测器被配置为测量预定的强度范围，并将根据测量的脉冲计算出的峰存储在相应的数据集中。

主权项：1.一种用于使用单个电子倍增模数转换ADC检测器基于电荷状态将由质量分析器测量的离子分离成两个或更多个质谱的系统，包括：质谱仪，包括质量分析器，其中所述质量分析器包括电子倍增ADC检测器，所述电子倍增ADC检测器针对被检测到的离子产生检测脉冲，所述检测脉冲的强度与离子电荷状态成比例；和处理器，所述处理器指示所述质量分析器检测由所述质谱仪传输到所述质量分析器的多个离子中撞击ADC检测器的每个离子的脉冲，使用峰查找针对检测到的每个脉冲计算峰，计算每个峰的强度，将每个峰的强度与对应于两个或更多个不同电荷状态范围的两个或更多个不同的预定强度范围进行比较，并基于比较将每个峰存储在对应于所述两个或更多个预定强度范围的两个或更多个数据集中的一个数据集中，其中，存储所述每个峰的数据集包括所述每个峰的所有点，以及通过组合所述两个或更多个数据集中的每个数据集中的峰针对所述两个或更多个数据集中的每个数据集创建质谱，从而基于电荷状态针对质量分析器检测到的离子产生两个或更多个质谱。

全文数据：

权利要求：

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