申请/专利权人：爱芯元智半导体(宁波)有限公司

申请日：2024-01-15

公开（公告）日：2024-04-30

公开（公告）号：CN117951012A

主分类号：G06F11/36

分类号：G06F11/36

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.17#实质审查的生效;2024.04.30#公开

摘要：本申请提供了一种基于BT平台的数据访存模块验证装置、方法及设备，装置包括：执行模块、模拟模块以及比对模块；执行模块、模拟模块以及比对模块依次连接；比对模块与待验证数据访存模块连接；执行模块，用于生成激励数据，将激励数据发送至模拟模块与待验证数据访存模块；模拟模块，用于模拟待验证数据访存模块的数据访存方式，使用激励数据对随机寄存器进行数据访存，得到模拟结果；待验证数据访存模块，用于使用激励数据，对随机寄存器进行数据访存，得到实际结果；比对模块，用于对实际结果以及对应的模拟结果进行比对，得到比对结果。本申请的技术方案，提高数据访存模块的验证效率。

主权项：1.一种基于BT平台的数据访存模块验证装置，其特征在于，包括：执行模块、模拟模块以及比对模块；所述执行模块、所述模拟模块以及所述比对模块依次连接；所述比对模块与待验证数据访存模块连接；所述执行模块，用于生成激励数据，将所述激励数据发送至所述模拟模块与所述待验证数据访存模块；所述模拟模块，用于模拟所述待验证数据访存模块的数据访存方式，使用所述激励数据对随机寄存器进行数据访存，得到模拟结果；所述待验证数据访存模块，用于使用所述激励数据，对所述随机寄存器进行数据访存，得到实际结果；所述比对模块，用于对所述实际结果以及对应的模拟结果进行比对，得到比对结果，所述比对结果指示所述待验证数据访存模块是否正常进行数据访存。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 爱芯元智半导体(宁波)有限公司 基于BT平台的数据访存模块验证装置、方法及设备

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