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【发明公布】一种TF闪存卡质检用检测装置_深圳市天创伟业科技有限公司_202410200469.3 

申请/专利权人:深圳市天创伟业科技有限公司

申请日:2024-02-23

公开(公告)日:2024-04-30

公开(公告)号:CN117943295A

主分类号:B07C5/04

分类号:B07C5/04;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.17#实质审查的生效;2024.04.30#公开

摘要:本发明公开了一种TF闪存卡质检用检测装置,属于TF卡检测领域,包括检测台,读取设备的底部设置有驱动稳定机构,用于稳定升降检测时的TF闪存卡,检测台的内部设置有边缘检测单元,用于对TF闪存卡的边缘切割尺寸偏小、尺寸偏大和存在毛刺时进行检测。本发明在将TF闪存卡放置于存放槽内后,通过升降液压缸带动升降稳定支架上升,并通过负压的升降驱动柱对其底部吸取稳定,并在其尺寸偏小和偏大或边缘存在毛刺时,使得升降驱动柱下落与支撑稳定台或接触支架顶部接触,增大升降驱动柱内部气压,使其能够从次品检测孔滑动至收集盒中,从而能够在读取检测TF闪存卡内部信息前对边缘尺寸和光滑度进行检测,使其在实际使用时正常插拔。

主权项:1.一种TF闪存卡质检用检测装置,包括用于检测所述TF闪存卡本体的检测台(1),所述检测台(1)的顶部设置有读取设备(11),其特征在于,所述读取设备(11)的底部设置有驱动稳定机构,用于对检测时所述TF闪存卡本体进行稳定升降,所述检测台(1)的内部设置有边缘检测单元,所述边缘检测单元由边缘检测机构和分类收集机构组成;所述边缘检测机构由小尺寸检测机构和大尺寸检测机构组成,所述小尺寸检测机构用于对所述TF闪存卡本体的边缘切割尺寸偏小时进行检测,所述大尺寸检测机构用于对所述TF闪存卡本体的边缘切割尺寸偏大和存在毛刺时进行检测,所述分类收集机构用于对检测后所述TF闪存卡的分类收集。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳市天创伟业科技有限公司 一种TF闪存卡质检用检测装置

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