申请/专利权人：深圳市卓尔维教育有限公司

申请日：2023-09-01

公开（公告）日：2024-04-30

公开（公告）号：CN220872613U

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R1/04

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.30#授权

摘要：本实用新型公开了一种ID芯片检验装置，包括底架，底架上固定安装有检测台，检测台上固定安装有底座，底座顶端设置有转盘，转盘上预留有多个放置槽，转盘的底端固定安装有连接轴，连接轴的底端转动连接在底座内，多个放置槽内底端均设置有托板，多个托板的底端均固定安装有顶杆，转盘的底端位于每个顶杆的两侧均固定安装有限位架，每个顶杆的底端固定安装有连接板。该ID芯片检验装置能够在检测过程中利用等待时间，提前放入待检测的ID芯片或者取出检测好的ID芯片，充分利用时间，减少检测间隔时间，从而进一步提高了检测的工作效率，同时能够在检测结束后利用托板将ID芯片推出放置槽外，方便拿取，从而进一步提高了本设备使用的便捷性。

主权项：1.一种ID芯片检验装置，其特征在于，包括底架1，所述底架1上固定安装有检测台2，所述检测台2上固定安装有底座8，所述底座8顶端设置有转盘3，所述转盘3上预留有多个放置槽18，所述转盘3的底端固定安装有连接轴9，所述连接轴9的底端转动连接在底座8内，多个所述放置槽18内底端均设置有托板19，多个所述托板19的底端均固定安装有顶杆20，所述转盘3的底端位于每个顶杆20的两侧均固定安装有限位架21，每个所述顶杆20的底端固定安装有连接板17，每个所述连接板17的两侧均固定安装有限位片22，两个所述限位片22均滑动连接在限位架21内，两个所述限位片22的顶端均固定安装有弹簧15，两个所述弹簧15的顶部均固定安装在限位架21内顶端。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市卓尔维教育有限公司 一种ID芯片检验装置

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