申请/专利权人：中国原子能科学研究院

申请日：2024-01-19

公开（公告）日：2024-05-03

公开（公告）号：CN117969573A

主分类号：G01N23/2202

分类号：G01N23/2202;G01N23/223

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.21#实质审查的生效;2024.05.03#公开

摘要：本申请实施例提供了一种分析仪器的分离分析方法、分析仪器和分离柱，分离分析方法用于分离分析样品溶液，样品溶液包括待测组分和杂质组分，分析仪器包括分离柱和X射线荧光分析设备，分离柱包括具有过流通道的柱体以及填充在过流通道中的分离树脂，柱体为轻元素材料，在热室分离阶段，将样品溶液加入过流通道中，通过分离树脂吸附待测组分，并使杂质组分排出过流通道。在分析阶段，将X射线荧光分析设备朝向分离柱，以使X射线荧光分析设备产生的X射线穿过柱体并照射在分离树脂上。分离树脂在过流通道中的填充范围位于X射线荧光分析设备产生的光斑的有效范围内。本申请实施例的分离分析方法操作便捷。

主权项：1.一种分析仪器的分离分析方法，用于分离分析样品溶液，所述样品溶液包括待测组分和杂质组分，其特征在于，所述分析仪器包括分离柱和X射线荧光分析设备，所述分离柱包括具有过流通道的柱体以及填充在所述过流通道中的分离树脂，所述柱体为轻元素材料，所述分离分析方法包括热室分离阶段和分析阶段，所述分离分析方法包括：在所述热室分离阶段，将所述样品溶液加入所述过流通道中，通过所述分离树脂吸附所述待测组分，并使所述杂质组分排出所述过流通道；在所述分析阶段，将所述X射线荧光分析设备朝向所述分离柱，以使所述X射线荧光分析设备产生的X射线穿过所述柱体并照射在所述分离树脂上；其中，所述分离树脂在所述过流通道中的填充范围位于所述X射线荧光分析设备产生的光斑的有效范围内。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国原子能科学研究院 一种分析仪器的分离分析方法、分析仪器和分离柱

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