申请/专利权人：深圳市显控科技股份有限公司

申请日：2020-01-09

公开（公告）日：2020-05-19

公开（公告）号：CN111176260A

主分类号：G05B23/02(20060101)

分类号：G05B23/02(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2020.06.12#实质审查的生效;2020.05.19#公开

摘要：本发明公开了一种多通道PID整定性能测试的方法、系统及设备，其中，一种多通道PID整定性能测试的方法包括获取各通道PID的参数和指令；根据各通道PID的参数和指令，对被控对象的待测量进行整定；获取各通道PID的测试结果。本发明通过构建一种多通道PID整定性能测试的系统和设备，搭建多通道PID整定性能测试环境，对比测试多通道PID的整定性能，并根据多个实际用例的测试，证明了EPID的整定性能要优于PID。

主权项：1.一种多通道PID整定性能测试方法，其特征在于，包括：获取各通道PID的参数和指令；根据所述参数和所述指令，对被控对象的待测量进行整定；获取各通道PID的测试结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市显控科技股份有限公司 多通道PID整定性能测试的方法、系统及设备

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