申请/专利权人:西安智多晶微电子有限公司
申请日:2019-12-30
公开(公告)日:2020-05-19
公开(公告)号:CN111176884A
主分类号:G06F11/10(20060101)
分类号:G06F11/10(20060101);G06F15/78(20060101)
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2023.05.16#授权;2020.06.12#实质审查的生效;2020.05.19#公开
摘要:本发明公开了一种用于FPGA配置存储器的SEC校验方法,包括:获取并保存参考ECC校验码;根据所述参考ECC校验码对所述FPGA配置存储器中的数据逐帧进行ECC校验并修改错误数据;对所述FPGA配置存储器中的数据进行CRC校验并在出现错误时对配置存储器中的所有帧进行数据重置。还公开了一种用于FPGA配置存储器的SEC校验装置,包括校验码存储模块、SEC校验模块、校正模块、配置模块和片外存储器,用于执行所述SEC校验方法。本发明的方法和装置使用ECC校验和CRC校验在FPGA芯片正常工作时对FPGA配置存储器中的数据进行检测和错误校正,两种校验方式共同作用,提高了FPGA芯片工作的正确性和稳定性。
主权项:1.一种用于FPGA配置存储器的SEC校验方法,其特征在于,所述方法包括:获取并保存参考ECC校验码;根据所述参考ECC校验码对所述FPGA配置存储器中的数据逐帧进行ECC校验并修改错误数据;对所述FPGA配置存储器中的数据进行CRC校验并在出现错误时对配置存储器中的所有帧进行数据重置。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 西安智多晶微电子有限公司 用于FPGA配置存储器的SEC校验方法和装置
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