申请/专利权人：苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司

申请日：2019-10-25

公开（公告）日：2020-09-18

公开（公告）号：CN211515248U

主分类号：B07C5/342(20060101)

分类号：B07C5/342(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2020.09.18#授权

摘要：本实用新型提供一种引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述引线框架缺陷检测装置包括：第一上下料机构、视觉检测机构、第二上下料机构；所述第一上下料机构位于所述视觉检测机构的一端，所述第二上下料机构位于所述视觉检测机构的另一端，所述第一上下料机构、第二上下料机构交替地将待检测的集成电路引线框架送到视觉检测机构处进行视觉检测。本实用新型的引线框架缺陷检测装置具有两个上下料工位，两个上下料工位分布于一个视觉检测机构的两侧，如此两个上下料工位共用一个视觉检测机构，精简了装置的结构，同时对于任一个上下料工位而言，可连续工作减少了等待的时间，提高了检测的效率。

主权项：1.一种引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述引线框架缺陷检测装置包括：第一上下料机构、视觉检测机构、第二上下料机构；所述第一上下料机构位于所述视觉检测机构的一端，所述第二上下料机构位于所述视觉检测机构的另一端，所述第一上下料机构、第二上下料机构交替地将待检测的集成电路引线框架送到视觉检测机构处进行视觉检测；所述视觉检测机构包括：直线电机、第一检测单元、第二检测单元、运动平台，所述直线电机一端延伸至所述第一上下料机构处，另一端延伸至所述第二上下料机构处，所述运动平台由所述直线电机驱动于所述第一上下料机构和第二上下料机构之间进行往复运动，所述第一、二检测单元均设置为至少一个，二者均包括：光源和检测相机，所述第一检测单元对集成电路引线框架的背面进行检测，所述第二检测单元对集成电路引线框架的正面进行检测。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司 引线框架缺陷检测装置

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