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【发明公布】光子晶体显微镜和细胞力学测量方法_东南大学苏州医疗器械研究院_202010931803.4 

申请/专利权人:东南大学苏州医疗器械研究院

申请日:2020-09-08

公开(公告)日:2020-10-23

公开(公告)号:CN111812095A

主分类号:G01N21/84(20060101)

分类号:G01N21/84(20060101);G01N21/01(20060101);G02B21/34(20060101);G02B21/06(20060101);G02B21/02(20060101);G02B21/36(20060101);G02B1/00(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2020.12.25#授权;2020.11.10#实质审查的生效;2020.10.23#公开

摘要:本公开实施例提供一种光子晶体显微镜和细胞力学测量方法。光子晶体显微镜包括光子晶体基底、载物台、探测光源和成像组件,光子晶体基底在载物台上方,探测光源和成像组件依次位于载物台背离光子晶体基底的一侧,光子晶体基底用于培养待测细胞,并且,在待测细胞在光子晶体基底上生长时,光子晶体基底能够产生形变;其中,探测光源,用于向光子晶体基底发出探测光;光子晶体基底反射探测光至成像组件;成像组件,接收来自光子晶体基底的反射光进行成像,以利用成像图形得到待测细胞与光子晶体基底之间的作用力信息。在保证亚细胞测量精度的前提下实现了通量的大幅度提高,简化了算法的复杂度、提高了时间分辨率、降低装置成本与实验的复杂度。

主权项:1.一种光子晶体显微镜,其特征在于,所述光子晶体显微镜包括光子晶体基底、载物台、探测光源和成像组件,所述光子晶体基底在所述载物台上方,所述探测光源和所述成像组件依次位于所述载物台背离所述光子晶体基底的一侧,所述光子晶体基底用于培养待测细胞,并且,在所述待测细胞在所述光子晶体基底上生长时,所述光子晶体基底能够产生形变;其中,所述探测光源,用于向所述光子晶体基底发出探测光;所述光子晶体基底,用于反射所述探测光至所述成像组件,并且,发生形变的所述光子晶体基底可以改变反射光的波长分量;所述成像组件,用于接收来自所述光子晶体基底的反射光进行成像,以利用成像图形得到所述待测细胞与所述光子晶体基底之间的作用力信息;所述光子晶体基底包括:透光的支撑层;光子晶体薄膜,所述光子晶体薄膜设置在所述支撑层背离所述载物台的一侧。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 东南大学苏州医疗器械研究院 光子晶体显微镜和细胞力学测量方法

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