申请/专利权人：松下知识产权经营株式会社

申请日：2019-08-20

公开（公告）日：2020-12-22

公开（公告）号：CN112119466A

主分类号：G16C10/00(20060101)

分类号：G16C10/00(20060101);G06N20/00(20060101)

优先权：["20180903 JP 2018-164752"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.08.27#实质审查的生效;2020.12.22#公开

摘要：电子密度推定方法包括：通过将第1输入数据输入到电子密度预测器来算出第1电子密度；执行使用第1输入数据和第1电子密度的数值模拟来算出第2电子密度，数值模拟是将第1输入数据和第1电子密度设定为初始值并将使用密度泛函方法的更新电子密度的处理进行一次以上的处理，所述第2电子密度不是使用所述密度泛函方法求出的收敛值；通过算出使第1电子密度与第2电子密度的差量最小化的电子密度预测器的参数来使所述电子密度预测器学习；从测试数据库取得第2输入数据，向被设定了算出的参数的电子密度预测器输入所述第2输入数据，推定第3电子密度；将推定出的所述第3电子密度输出。

主权项：1.一种电子密度推定方法，是根据与物质的组成和结构有关的物质信息推定所述物质的电子密度的电子密度推定装置中的电子密度推定方法，所述电子密度推定装置的计算机，a1从存储有所述物质信息的学习数据库取得第1输入数据；a2通过将所述第1输入数据输入到电子密度预测器来算出第1电子密度；a3执行使用所述第1输入数据和所述第1电子密度的数值模拟来算出第2电子密度，所述数值模拟是将所述第1输入数据和所述第1电子密度设定为初始值并将使用密度泛函方法的更新电子密度的处理执行一次以上的处理，所述第2电子密度不是使用所述密度泛函方法求出的收敛值；a4通过算出使所述第1电子密度与所述第2电子密度的差量最小化的所述电子密度预测器的参数来使所述电子密度预测器进行学习；a5从存储有所述物质信息的测试数据库取得第2输入数据，向被设定了所述参数的所述电子密度预测器输入所述第2输入数据，推定第3电子密度；a6将推定出的所述第3电子密度输出。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 松下知识产权经营株式会社 电子密度推定方法、电子密度推定装置及电子密度推定程序

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