申请/专利权人：润昇系统测试(深圳)有限公司

申请日：2020-11-06

公开（公告）日：2021-02-23

公开（公告）号：CN112397135A

主分类号：G11C29/56(20060101)

分类号：G11C29/56(20060101);G11C29/44(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.03.12#实质审查的生效;2021.02.23#公开

摘要：本发明提供一种测试及修复装置以及测试及修复方法。测试及修复装置包括多个测试板、至少一修复板以及主机。多个测试板分别搭载多个待测内存模块。所述多个待测内存模块分别包括多个待测内存芯片。主机通过所述多个测试板对所述多个待测内存芯片进行测试。将待修复内存模块或待修复内存芯片移动至修复板，并且通过至少一修复板对待修复内存芯片进行修复。

主权项：1.一种用于内存的测试及修复装置，其特征在于，所述测试及修复装置包括：多个测试板，分别经配置以搭载多个待测内存模块，其中所述多个待测内存模块分别包括多个待测内存芯片；至少一修复板；以及主机，耦接于所述多个测试板以及所述至少一修复板，经配置以：通过所述多个测试板对所述多个待测内存芯片进行测试，当所述多个待测内存芯片中的待测内存芯片被判定为没有通过测试并且符合可修复条件的待修复内存芯片时，将对应于所述待修复内存芯片的待测内存模块以及所述待修复内存芯片的其中之一移动至所述至少一修复板，并且通过所述至少一修复板对待修复内存芯片进行修复。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 润昇系统测试(深圳)有限公司 测试及修复装置以及测试及修复方法

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