申请/专利权人:北京中科三环高技术股份有限公司
申请日:2019-12-31
公开(公告)日:2021-07-16
公开(公告)号:CN113126008A
主分类号:G01R33/12(20060101)
分类号:G01R33/12(20060101)
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2022.05.31#授权;2021.08.03#实质审查的生效;2021.07.16#公开
摘要:本公开涉及一种确定磁导系数的方法,以解决相关技术中无法测量非圆柱体、非长方体、非椭球体等形状磁体磁导系数的问题。该方法用于确定任意形状磁体的磁导系数,包括:确定磁体样品在第一温度下的第一退磁曲线,并根据第一退磁曲线,确定第一剩余磁感应强度和第一矫顽力值;确定磁体样品在第二温度下的第二退磁曲线,并根据第二退磁曲线,确定第二剩余磁感应强度和第二矫顽力值,第二温度大于第一温度;确定磁体样品从第三温度升温至第二温度、再降温至第三温度的减磁率;按照相应公式,确定磁体样品的磁导系数。
主权项:1.一种确定磁导系数的方法,其特征在于,用于确定任意形状磁体的磁导系数,所述方法包括:确定磁体样品在第一温度下的第一退磁曲线,并根据所述第一退磁曲线,确定第一剩余磁感应强度和第一矫顽力值,所述第一退磁曲线用于表征所述磁体样品在所述第一温度下的磁感应强度和磁场强度之间的对应关系;确定所述磁体样品在第二温度下的第二退磁曲线,并根据所述第二退磁曲线,确定第二剩余磁感应强度和第二矫顽力值,所述第二退磁曲线用于表征所述磁体样品在所述第二温度下的磁感应强度和磁场强度之间的对应关系,所述第二温度大于所述第一温度;确定所述磁体样品从第三温度升温至所述第二温度、再降温至所述第三温度的减磁率;按照如下公式,确定所述磁体样品的磁导系数: 其中,Pc表示所述磁体样品的磁导系数,BrT1表示所述磁体样品在第一温度T1下的第一剩余磁感应强度,HcbT1表示所述磁体样品在第一温度T1下的第一矫顽力值,BrT2表示所述磁体样品在第二温度T2下的第二剩余磁感应强度,HcbT2表示所述磁体样品在第二温度T2下的第二矫顽力值,Loss表示所述磁体样品的减磁率。
全文数据:
权利要求:
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