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【实用新型】光耦动态参数测试系统_苏州索拉科技有限公司_202121386136.2 

申请/专利权人:苏州索拉科技有限公司

申请日:2021-06-22

公开(公告)日:2022-09-23

公开(公告)号:CN217484416U

主分类号:G01R31/00

分类号:G01R31/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2022.09.23#授权

摘要:本实用新型涉及一种光耦动态参数测试系统,包括光耦动态参数测试控制单元,所述光耦动态参数测试控制单元的输出端分别通过程控恒流脉冲源和程控恒压脉冲源与OPT光耦Handler配置单元的输入端连接,OPT光耦Handler配置单元通过AGC信号增益处理单元与COMP阈值侦测单元连接;AGC信号增益处理单元分别通过COMP阈值侦测单元与PDU峰值检测与转换单元以及TDC高速并行时间测量单元与光耦动态参数测试控制单元连接,光耦动态参数测试控制单元与COMP阈值侦测单元连接。本实用新型提供了一种结构灵活扩展性强的光耦动态参数测试系统,具有稳定、安全、有效的动态参数测试性能。

主权项:1.一种光耦动态参数测试系统,其特征在于:包括光耦动态参数测试控制单元,所述光耦动态参数测试控制单元的输出端分别通过程控恒流脉冲源和程控恒压脉冲源与OPT光耦Handler配置单元的输入端连接,所述OPT光耦Handler配置单元通过AGC信号增益处理单元与COMP阈值侦测单元连接;且所述AGC信号增益处理单元分别通过COMP阈值侦测单元与PDU峰值检测与转换单元以及TDC高速并行时间测量单元与所述光耦动态参数测试控制单元的输入端连接,且所述光耦动态参数测试控制单元的输出端还与所述COMP阈值侦测单元的输入端连接;所述OPT光耦Handler配置单元的输出端还分别连接有Rg原边响应阻抗阵列和RL副边负载阻抗阵列。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州索拉科技有限公司 光耦动态参数测试系统

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