申请/专利权人：株式会社电装

申请日：2021-04-01

公开（公告）日：2022-12-02

公开（公告）号：CN115427831A

主分类号：G01S7/487

分类号：G01S7/487;G01S17/931;G08G1/16

优先权：["20200415 JP 2020-072685"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2022.12.20#实质审查的生效;2022.12.02#公开

摘要：本发明的光测距装置200具备：发光部40，射出射出光DL；受光部60，具有用于接受入射光的受光像素66，输出与受光像素接受到的入射光的受光强度对应的检测信号；以及控制装置100，从受光部获取检测信号，并使用检测信号来检测距物体的距离，其中，受光部接受与被物体OB反射的射出光对应的反射光RL作为入射光，检测信号与反射光的受光强度对应。在检测出第一物体OB1和第二物体OB2，且判定为第二物体是与第一物体对应的伪物体的情况下，控制装置可以去除第二物体的检测结果，其中，第二物体在连结光测距装置和第一物体的直线OL的延长线上位于距第一物体的距离D1的N倍N为2以上的自然数的距离D2的位置。

主权项：1.一种光测距装置200，具备：发光部40，射出射出光DL；受光部60，具有用于接受入射光的受光像素66，输出与上述受光像素接受到的上述入射光的受光强度对应的检测信号；以及控制装置100，从上述受光部获取检测信号，并使用上述检测信号来检测距上述物体的距离，其中，上述受光部接受与被物体OB反射的上述射出光对应的反射光RL作为上述入射光，上述检测信号与上述反射光的受光强度对应，在检测出第一物体OB1、OB21、OB31、OB41和第二物体OB2、OB22、OB32、OB42，且判定为上述第二物体是与上述第一物体对应的伪物体的情况下，上述控制装置去除上述第二物体的检测结果，其中，上述第二物体在连结上述光测距装置和上述第一物体的直线OL的延长线上位于距上述第一物体的距离D1的N倍的距离D2的位置，N为2以上的自然数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 株式会社电装 光测距装置

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