申请/专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司

申请日：2019-10-31

公开（公告）日：2022-12-02

公开（公告）号：CN110992992B

主分类号：G11B20/18

分类号：G11B20/18;G11C29/56

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.12.02#授权;2020.05.05#实质审查的生效;2020.04.10#公开

摘要：本发明公开了一种硬盘测试方法，包括步骤：在硬盘中创建第一分区和第二分区；在所述第一分区中写入测试文件，在所述第二分区中进行FIO测试；获取所述测试文件的初始验证值；对所述硬盘的状态信息以及与系统的交互信息检查后记录到执行日志；对所述硬盘进行预设次数的重启处理，并在每次重启后重新获取所述测试文件的验证值以及重新在所述执行日志中记录对所述硬盘的状态信息以及与系统的交互信息的检查结果；根据每一次获取的所述测试文件的验证值与初始验证值的比对结果以及检测结果确定所述硬盘的性能。本发明还公开了一种计算机设备以及可读存储介质。本发明公开的方法通过在硬盘中创建2个分区以及不断的上下电处理，能够全面高效地测试硬盘的可靠性。

主权项：1.一种硬盘测试方法，包括步骤：在硬盘中创建第一分区和第二分区；在所述第一分区中写入测试文件，在所述第二分区中进行FIO测试；获取所述测试文件的初始验证值；对所述硬盘的状态信息以及与系统的交互信息检查后记录到执行日志；对所述硬盘进行预设次数的重启处理，并在每次重启后重新获取所述测试文件的验证值以及重新在所述执行日志中记录对所述硬盘的状态信息以及与系统的交互信息的检查结果；根据每一次获取的所述测试文件的验证值与初始验证值的比对结果以及检测结果确定所述硬盘的性能；其中，当所述硬盘下电时，FIO测试被中断，当所述硬盘重新上电后，继续进行FIO测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州浪潮智能科技有限公司 一种硬盘测试方法、设备以及存储介质

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