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【发明公布】射频电路测试系统和射频电路测试方法_南京英锐创电子科技有限公司_202211418611.9 

申请/专利权人:南京英锐创电子科技有限公司

申请日:2022-11-14

公开(公告)日:2023-03-14

公开(公告)号:CN115802369A

主分类号:H04W24/00

分类号:H04W24/00;H04B17/00;H04B17/15;H04B17/29;H01R27/00;H01R31/06;H01R13/66

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.03.31#实质审查的生效;2023.03.14#公开

摘要:本申请涉及一种射频电路测试系统和射频电路测试方法。所述系统包括:网络通信模块,用于根据接收的预测试信号生成采集信号;功能转接模块,与所述网络通信模块连接,用于传输所述采集信号;功能采集模块,与所述功能转接模块连接,用于经所述功能转接模块接收所述网络通信模块发送的所述采集信号,并根据所述采集信号获取待测试芯片的测试信息,并将所述测试信息经所述功能转接模块传输至所述网络通信模块;处理模块,与所述网络通信模块连接,用于根据所述待测试芯片的测试属性生成所述预测试信号,以及接收并处理所述测试信息以获取所述待测试芯片的测试结果。采用本系统能够减少测试时间,提高测试效率。

主权项:1.一种射频电路测试系统,其特征在于,用于测试通信芯片的射频性能,所述射频电路测试系统包括:网络通信模块,用于根据接收的预测试信号生成采集信号;功能转接模块,与所述网络通信模块连接,用于传输所述采集信号;功能采集模块,与所述功能转接模块连接,用于经所述功能转接模块接收所述网络通信模块发送的所述采集信号,并根据所述采集信号获取待测试芯片的测试信息,并将所述测试信息经所述功能转接模块传输至所述网络通信模块;处理模块,与所述网络通信模块连接,用于根据所述待测试芯片的测试属性生成所述预测试信号,以及接收并处理所述测试信息以获取所述待测试芯片的测试结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 南京英锐创电子科技有限公司 射频电路测试系统和射频电路测试方法

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