申请/专利权人：深圳市硅格半导体有限公司

申请日：2022-11-22

公开（公告）日：2023-03-14

公开（公告）号：CN115794679A

主分类号：G06F12/10

分类号：G06F12/10;G06F11/22

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.03.31#实质审查的生效;2023.03.14#公开

摘要：本发明涉及地址校验领域，公开了一种PCIESSD硬盘的逻辑地址测试方法以及相关装置。该方法包括：Host主控系统接收信息存储指令，获取信息存储指令对应的存储数据，以及根据预置物理逻辑映射表，生成存储数据对应的逻辑地址，将存储数据、逻辑地址发送至硬盘存储系统中；硬盘存储系统接收存储数据和逻辑地址，根据预置FTL协议，对存储数据进行物理写入处理，生成物理地址；判断逻辑地址和物理地址是否正确匹配；若不正确，则发送报错信息至Host主控系统中。

主权项：1.一种PCIESSD硬盘的逻辑地址测试方法，其特征在于，所述PCIESSD硬盘的逻辑地址测试方法应用于所述PCIESSD硬盘的逻辑地址测试系统，所述PCIESSD硬盘的逻辑地址测试系统包括：Host主控系统、硬盘存储系统，所述PCIESSD硬盘的逻辑地址测试方法包括：所述Host主控系统接收信息存储指令，获取所述信息存储指令对应的存储数据，以及根据预置物理逻辑映射表，生成所述存储数据对应的逻辑地址，将所述存储数据、所述逻辑地址发送至所述硬盘存储系统中；所述硬盘存储系统接收所述存储数据和所述逻辑地址，根据预置FTL协议，对所述存储数据进行物理写入处理，生成物理地址；判断所述逻辑地址和所述物理地址是否正确匹配；若不正确，则发送报错信息至所述Host主控系统中。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市硅格半导体有限公司 PCIE SSD硬盘的逻辑地址测试方法以及相关装置

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