申请/专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院

申请日：2019-09-30

公开（公告）日：2023-04-11

公开（公告）号：CN112578446B

主分类号：G01V1/30

分类号：G01V1/30

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.04.11#授权;2021.04.16#实质审查的生效;2021.03.30#公开

摘要：本发明提供一种地层反射杂乱程度的刻画方法及系统，该方法包括：S1、提取三维数据体的倾角和方位角属性；S2、提取所述三维数据体内任意点Dotx,y,z的小三维数据体；S3、将所述小三维数据体中每一点的倾角和方位角投影到极坐标系；S4、计算点Dotx,y,z到小三维数据体中任意一点Doti,j,k的距离Disi,j,k；S5、计算点Dotx,y,z的杂乱度属性。本发明通过杂乱度属性反映反射杂乱程度，杂乱度值越大反射越杂乱，本发明能够剔除反射稳定的区域、识别地震剖面中反射比较杂乱的地方，有利于弱信号的识别。

主权项：1.一种地层反射杂乱程度的刻画方法，其特征在于，包括：S1、提取三维数据体的倾角和方位角属性；S2、提取所述三维数据体内任意点Dotx,y,z的小三维数据体；S3、将所述小三维数据体中每一点的倾角和方位角投影到极坐标系；S4、计算点Dotx,y,z到小三维数据体中任意一点Doti,j,k的距离Disi,j,k：按照如下公式计算点Dotx,y,z到小三维体中点Doti,j,k的距离Disi,j,k： 其中，Dotx,y,z中的x表示线号、y表示道号、z表示时间方向的样点数，i,j,k为空间中的坐标点位置，Angle为倾角，Trend为方位角；S5、计算点Dotx,y,z的杂乱度属性：按照如下公式计算点Dotx,y,z的杂乱度属性Disarrayx,y,z：Disarrayx,y,z＝∑Disi,j,k其中，i的范围为i∈[x-m,x+m]，j的范围为j∈[y-m,y+m]，k的范围为k∈[z-n,z+n]，m取自1～10的任一自然数，n取自1～50的任一自然数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院 一种地层反射杂乱程度的刻画方法及系统

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