申请/专利权人：成都京东方显示科技有限公司

申请日：2020-10-30

公开（公告）日：2023-10-03

公开（公告）号：CN112198685B

主分类号：G02F1/13

分类号：G02F1/13

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.10.03#授权;2021.01.26#实质审查的生效;2021.01.08#公开

摘要：本发明提供一种COA基板检测方法及装置。COA基板检测方法，包括：将每个像素区域划分为多个子区域，并获取各像素区域中各子区域的灰阶值，其中，多个子区域至少包括一个与数据线对应的第一区域；根据各像素区域包括的各子区域的灰阶值，确定子区域对应的像素区域是否存在缺陷。本发明易于检测出像素区域中的缺陷，检测较为可靠。

主权项：1.一种COA基板检测方法，其特征在于，所述COA基板具有由多条扫描线和数据线定义出的多个像素区域，所述COA基板上的多个色阻单元与多个所述像素区域一一对应，所述方法包括：将每个所述像素区域划分为多个子区域，并获取第一像素区域、第二像素区域以及第三像素区域中当前所述子区域的灰阶值，其中，所述多个子区域至少包括一个与所述数据线对应的第一区域；根据各所述像素区域包括的各子区域的灰阶值，确定所述子区域对应的像素区域是否存在缺陷；所述根据各所述像素区域包括的各子区域的灰阶值确定各子区域是否存在缺陷，具体包括：根据各相邻所述像素区域中对应子区域的所述灰阶值的差值和预设阈值，确定各所述子区域是否存在缺陷，其中，所述预设阈值由各相邻所述像素区域中对应子区域的所述灰阶值决定；其中，所述各相邻所述像素区域包括相邻的第一像素区域、第二像素区域以及第三像素区域；每相邻所述像素区域所包括的子区域中，所述第一区域的灰阶值对应的预设阈值大于其它所述子区域的灰阶值对应的预设阈值；根据各相邻所述像素区域中对应子区域的所述灰阶值的差值和预设阈值，确定各所述子区域是否存在缺陷，具体包括，确定所述第一像素区域和所述第二像素区域的当前所述子区域的灰阶值的第一差值；确定所述第二像素区域和所述第三像素区域的当前所述子区域的灰阶值的第二差值；若所述第一差值大于第一预设阈值，且所述第二差值大于第二预设阈值，则确定所述第二像素区域的当前所述子区域存在缺陷；其中，所述预设阈值包括：与所述第一像素区域和所述第二像素区域的当前所述子区域的灰阶值对应的第一预设阈值，与所述第二像素区域和所述第三像素区域的当前所述子区域的灰阶值对应的第二预设阈值；将所述当前子区域的下一个子区域为新的当前子区域，并重复上述步骤，直至所有所述像素区域中的所述子区域均确定完毕。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 成都京东方显示科技有限公司 COA基板检测方法及装置

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