申请/专利权人：中国科学院微电子研究所

申请日：2022-03-29

公开（公告）日：2023-10-24

公开（公告）号：CN116933709A

主分类号：G06F30/367

分类号：G06F30/367;G06F30/31;G06F119/08

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.11.10#实质审查的生效;2023.10.24#公开

摘要：本发明公开了FDSOI器件输出电流改变量提取方法，涉及半导体器件仿真技术领域。本发明在仿真平台中进行FDSOI器件的仿真，得到FDSOI器件在多个温度点下的输出电流‑栅极电压曲线，根据输出电流‑栅极电压曲线获取FDSOI器件在特定栅极电压下的输出电流改变量，可精确提取FDSOI器件在高温条件下的输出电流改变量。

主权项：1.一种FDSOI器件输出电流改变量提取方法，其特征在于，包括：在仿真平台中进行FDSOI器件的仿真，得到所述FDSOI器件在多个温度点下的输出电流-栅极电压曲线；根据所述输出电流-栅极电压曲线获取所述FDSOI器件在特定栅极电压下的输出电流改变量。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院微电子研究所 FDSOI器件输出电流改变量提取方法

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