申请/专利权人：中国电子科技集团公司第十四研究所

申请日：2021-09-18

公开（公告）日：2023-10-24

公开（公告）号：CN113899956B

主分类号：G01R29/10

分类号：G01R29/10

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.10.24#授权;2022.01.25#实质审查的生效;2022.01.07#公开

摘要：本发明提供了一种相控阵天线阵元校准及方向图录取方法，包括获取天线近场非振荡区域对应的垂直间距；根据指定截断电平对应的区域确定二维测试面和双一维测试面，并确定划分双一维测试面的栅格；并计算得到虚拟二维电场矢量；计算得到二维误差；计算等效二维近场；进行校准得到校准后的并生成补偿校准码；加入补偿校准码后再次使用上述方法测量天线中所有阵元的幅度和相位分布，完成所有阵元方向图的录取。本发明将单个阵元所对应的二维测试面等效为一个正交的一维列向量测试向量，在确保校准精度近似不变的情况下，大幅度降低了天线校准所需的测试量，进而几何级地提升了天线校准的效率，并有效降低一次校准后的剩余误差。

主权项：1.一种相控阵天线阵元校准及方向图录取方法，其特征在于，包括以下步骤：获取天线近场非振荡区域对应的垂直间距，所述天线近场非振荡区域对应的垂直间距具体为，在平面近场暗室，当平面近场中心区域归一化幅度和相位趋于稳定时探头到天线的垂直间距；在此垂直间距上，将探头对准天线的某一非边缘阵元的几何中心，记录其电平，随后分别沿方位向和距离向平移探头，根据指定截断电平对应的区域确定二维测试面和十字形双一维测试面，并确定划分十字形双一维测试面的栅格；分别录取十字形双一维测试面中每一栅格处非边缘阵元对应的电场矢量，并计算得到虚拟二维电场矢量；录取二维测试面中的每一栅格处非边缘阵元对应的实测电场矢量，并计算得到二维误差；录取指定截断电平对应的区域中的每一阵元在十字形双一维测试面的栅格处的电场矢量，计算等效二维近场；根据实测电场矢量与计算获取的等效二维近场，将天线阵元方向图的相位中心移至二维测试面中心或天线相位中心，进行校准得到校准后的天线阵元方向图并生成补偿校准码；加入补偿校准码后再次使用上述方法测量天线中所有阵元的幅度和相位分布，完成所有阵元方向图的录取。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国电子科技集团公司第十四研究所 一种相控阵天线阵元校准及方向图录取方法

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