申请/专利权人：中国人民解放军国防科技大学

申请日：2023-08-01

公开（公告）日：2023-11-21

公开（公告）号：CN117092497A

主分类号：G01R31/311

分类号：G01R31/311;G01R31/3185

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.12.08#实质审查的生效;2023.11.21#公开

摘要：本发明提供了一种基于奇数级偶数级版图分离的测试结构及其方法，将芯片的版图分为奇数级和偶数级两部分，分别进行测试。具体实现方式如下：首先，将芯片的版图分为奇数级和偶数级两部分；然后，在奇数级和偶数级的每个电路中，分别进行测试。测试结构包括两个部分：一个是测试信号发生器，用于产生测试信号；另一个是测试信号采集器，用于采集被测试电路的输出信号。测试信号发生器和测试信号采集器可以采用传统的扫描链ScanChain或者BoundaryScan。最后，将奇数级和偶数级的测试结果进行合并，得到整个芯片的测试结果。

主权项：1.一种基于奇数级偶数级版图分离的测试结构，其特征在于，将芯片的版图分为奇数级版图和偶数级版图两部分，分别设计测试结构，测试结构采用传统的ScanChain扫描链或者BoundaryScan扫描链；测试信号发生器采用任何一种合适的电路实现，包括但不限于多谐振荡器、格雷码发生器；测试信号采集器采用任何一种合适的电路实现，包括但不限于比较器、反相器；奇数级和偶数级的测试结构采用不同的测试策略，以提高测试效率和准确性；测试结构电路和版图；电路输入通过与非门串联起来，每一级与非门通过一个端口级联，并留出一个端口作为激励的输入端口，即图中的IN0、IN1、IN2、IN3、IN4，以上端口既固定输入，也接入其他的信号源和电路生成测试激励；奇数级和偶数级信号发生的变化存在不同，如果奇数级正常情况下输出的信号为恒为1，则偶数级输出的信号恒为0，反之亦然；通过分析输出的数据是从0向1的翻转还是从1向0的翻转，以此判断出现故障或翻转的电路发生在奇数级还是偶数级。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国人民解放军国防科技大学 一种基于奇数级偶数级版图分离的测试结构及其方法

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