申请/专利权人：武汉万集光电技术有限公司

申请日：2020-12-15

公开（公告）日：2023-12-01

公开（公告）号：CN114637182B

主分类号：G04F10/00

分类号：G04F10/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.12.01#授权;2022.07.05#实质审查的生效;2022.06.17#公开

摘要：本发明提供了一种基于FPGA进位链的TDC细时间测量系统及方法。所述系统包括：固定延时链模块，用于生成与待测脉冲信号对应的多个延迟信号；进位链模块，用于产生基于所述多个延迟信号来测量细时间所需的进位链逻辑；进位链运行位置值计算模块，用于基于所述进位链逻辑来提取、计算进位链运行位置值；等效进位链平均时延计算模块，用于基于所述进位链运行位置值来计算所述进位链模块的等效平均时延；细时间输出模块，用于基于所述等效平均时延和所述进位链运行位置值计算细时间值。本方案在提高细时间测量灵敏度和精度的同时，也提高了测量系统的稳定性，降低了温度、电压变化带来的影响，具有结构简单、计算复杂度低、易于实施及响应时间快等优点。

主权项：1.一种基于FPGA进位链的TDC细时间测量系统，其特征在于，包括：固定延时链模块，用于生成与待测脉冲信号对应的多个延迟信号；所述固定延时链模块中包含大于1条固定延时链，不同固定延时链的长度不同；进位链模块，用于产生基于所述多个延迟信号来测量细时间所需的进位链逻辑；进位链运行位置值计算模块，用于基于所述进位链逻辑来提取、计算进位链运行位置值；等效进位链平均时延计算模块，用于基于所述进位链运行位置值来计算所述进位链模块的等效平均时延；细时间输出模块，用于基于所述等效平均时延和所述进位链运行位置值计算细时间值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 武汉万集光电技术有限公司 基于FPGA进位链的TDC细时间测量系统及方法

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