申请/专利权人:道生天合材料科技(上海)股份有限公司
申请日:2023-07-07
公开(公告)日:2024-01-09
公开(公告)号:CN220322864U
主分类号:G01N1/28
分类号:G01N1/28
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.01.09#授权
摘要:本实用新型提供了一种用于DSC检测的膏体制样装置,涉及工业胶检测制样技术领域,其包括样品盘;所述样品盘设有样品槽,所述样品槽的底部设有刮片,所述刮片朝所述样品槽的中心轴倾斜设置,所述刮片用于刮除样品。本实用新型提供的用于DSC检测的膏体制样装置降低了膏体的制样难度,可以高效率的使样品材料在样品盘底部均匀铺展,同时避免样品污染样品盘的盘壁和盘口及仪器,提高测试精度。
主权项:1.一种用于DSC检测的膏体制样装置,其特征在于,包括样品盘1;所述样品盘1设有样品槽11,所述样品槽11的底部设有刮片2,所述刮片2朝所述样品槽11的中心轴倾斜设置,所述刮片2用于刮除样品。
全文数据:
权利要求:
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