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【发明授权】一种基于紧缩场系统的无相位测量方法及装置_北京邮电大学_202110138612.7 

申请/专利权人:北京邮电大学

申请日:2021-02-01

公开(公告)日:2024-02-09

公开(公告)号:CN112946373B

主分类号:G01R29/10

分类号:G01R29/10

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.02.09#授权;2021.07.02#实质审查的生效;2021.06.11#公开

摘要:本发明实施例提供了一种基于紧缩场系统的无相位测量方法及装置,方法包括:获取紧缩场系统在静区出射的伪平面波中的目标区域的空域幅值,作为第一空域幅值;获取预设尺寸的第一区域的空间频率域幅值,作为第一空间频率域幅值;执行第一预设算法;判断是否达到第一预设算法的结束条件;如果未达到,基于替换后的第二空间频率域值,更新第一空间频率域值,并返回执行第一预设算法中的步骤;如果达到,基于最终得到的空域相位数据,确定伪平面波中的目标区域的相位测量结果。可见,本方案中,通过多次循环迭代,提高了求解相位测量结果的准确度。

主权项:1.一种基于紧缩场系统的无相位测量方法,其特征在于,所述方法包括:获取紧缩场系统在静区出射的伪平面波中的目标区域的空域幅值,作为第一空域幅值;获取预设尺寸的第一区域的空间频率域幅值,作为第一空间频率域幅值;所述第一空间频率域幅值是经介质透镜转换,在所述介质透镜焦平面处采集得到的;所述第一区域包括所述目标区域;执行第一预设算法,包括:基于所述第一空间频率域幅值以及初始相位,计算得到第一空间频率域值;通过所述介质透镜的傅里叶逆变换,将第一空间频率域值由频域转换至空域,得到包括第二空域幅值和第一空域相位的第一空域值;将第二空域幅值中所述目标区域的空域幅值替换为所述第一空域幅值,得到替换后的第一空域值;通过所述介质透镜的傅里叶变换,将替换后的第一空域值由空域转换至频域,得到包括第二空间频率域幅值和第一空间频率域相位的第二空间频率域值;将第二空间频率域值中包括的第二空间频率域幅值替换为所述第一空间频率域幅值,得到替换后的第二空间频率域值;判断是否达到所述第一预设算法的结束条件;如果未达到,基于替换后的第二空间频率域值,更新第一空间频率域值,并返回执行所述通过所述介质透镜的傅里叶逆变换,将第一空间频率域值由频域转换至空域,得到包括第二空域幅值和第一空域相位的第一空域值的步骤;如果达到,基于最终得到的第一空域相位,确定所述伪平面波中的目标区域的相位测量结果;其中,经所述介质透镜转换得到所述第一空间频率域幅值的方式,包括:在采集所述目标区域的空域幅值的平面处放置第一介质透镜,在所述第一介质透镜工作面中除所述目标区域之外的其他区域处放上吸波材料,作为所述第一区域的空域幅值从所述第一介质透镜的一面出发,穿过所述第一介质透镜,到达所述第一介质透镜的另一面,经过角谱传输到达所述第一介质透镜的焦平面,实现一次介质透镜的傅里叶变换,将所述第一区域的空域幅值由空域转换至频域;将探头放置在所述第一介质透镜的焦平面处,采集频域幅值,得到所述第一空间频率域幅值,其中,所述第一介质透镜工作面的大小与所述第一区域的大小相等;或,在采集所述目标区域的空域幅值的平面处放置第二介质透镜,在所述第二介质透镜的四周放置吸波材料,作为所述第一区域的空域幅值从所述第二介质透镜的一面出发,穿过所述第二介质透镜,到达所述第二介质透镜的另一面,经过角谱传输到达所述第二介质透镜的焦平面,实现一次介质透镜的傅里叶变换,将所述第一区域的空域幅值由空域转换至频域;将探头放置在所述第二介质透镜的焦平面处,采集频域幅值,得到所述第一空间频率域幅值,其中,所述第二介质透镜工作面的大小与所述目标区域的大小相等。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京邮电大学 一种基于紧缩场系统的无相位测量方法及装置

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