申请/专利权人:中国科学院微电子研究所
申请日:2023-11-15
公开(公告)日:2024-03-12
公开(公告)号:CN117690992A
主分类号:H01L31/117
分类号:H01L31/117;H01L31/0224;H01L31/0216;H01L31/0352;H01L31/18
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.03.29#实质审查的生效;2024.03.12#公开
摘要:本申请属于三维探测器技术领域,具体涉及一种光电倍增型探测器及其制备方法。该光电倍增型探测器包括基体,该基体具备读取面与接收面,读取面与接收面设于基体厚度方向的至少一端;该光电倍增型探测器还包括第一电极、增益区及第二电极,其中,第一电极设于读取面上,增益区与第一电极相邻设置,而第二电极设于接收面上,增益区包含P区与N区,P区与N区的掺杂浓度不一致。本申请的光电倍增型探测器还包括绝缘层,该绝缘层位于基体上未布置电极的表面。该探测器在电极的读出电路附近形成局部高电场,进而改善器件的抗辐照性与信号放大能力,比如时间分辨率提高,响应速度加快等,此外,还改善了现有填充方式不均匀现象。
主权项:1.一种光电倍增型探测器,其特征在于:包括:基体:具备读取面与接收面,所述读取面与接收面设于所述基体厚度方向的至少一端;第一电极:设于所述读取面上;增益区:与所述第一电极相邻设置;第二电极:设于所述接收面上;绝缘层:位于所述基体上未布置电极的表面;所述增益区包含P区与N区,所述P区与所述N区的掺杂浓度不一致。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 中国科学院微电子研究所 光电倍增型探测器及其制备方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。