申请/专利权人：北京邮电大学

申请日：2024-03-08

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849571A

主分类号：G01R31/26

分类号：G01R31/26;G01R1/30;G05D23/20

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本申请提供一种硅光电倍增管测试系统，涉及硅光电倍增管测试技术领域。该系统包括：待测硅光电倍增管；温度控制模块，包括TEC制冷片、温度传感器和温度控制单元，TEC制冷片与待测硅光电倍增管贴接，温度控制模块分别与TEC制冷片和温度传感器电性连接；放大取样模块，与待测硅光电倍增管电性连接，用于对待测硅光电倍增管输出的目标输出信号进行放大取样处理，得到放大取样信号；信号分析模块，与放大取样模块电性连接，用于在接收到放大取样信号后，对放大取样信号进行转换处理，得到检测信息，对检测信息进行可视化处理，并展示可视化处理后的可视化波形，本申请的系统，提高了硅光电倍增管测试系统的检测效果。

主权项：1.一种硅光电倍增管测试系统，其特征在于，所述系统包括：待测硅光电倍增管；温度控制模块，包括TEC制冷片、温度传感器和温度控制单元，所述TEC制冷片与所述待测硅光电倍增管贴接，所述温度控制模块分别与所述TEC制冷片和所述温度传感器电性连接，其中，所述温度传感器用于检测所述待测硅光电倍增管的环境温度，并根据所述环境温度，控制所述温度控制单元调整所述TEC制冷片的工作温度；放大取样模块，与所述待测硅光电倍增管电性连接，用于对所述待测硅光电倍增管输出的目标输出信号进行放大取样处理，得到放大取样信号；信号分析模块，与所述放大取样模块电性连接，用于在接收到所述放大取样信号后，对所述放大取样信号进行转换处理，得到检测信息，对所述检测信息进行可视化处理，并展示可视化处理后的可视化波形，其中，所述检测信息包括单位时间信号数量信息、信号幅值信息、信号间时间差信息、环境信号数量变化信息、以及时间分辨信息中的至少一种信息。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京邮电大学 一种硅光电倍增管测试系统

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