申请/专利权人：IPG光子公司

申请日：2019-07-18

公开（公告）日：2024-03-12

公开（公告）号：CN117680810A

主分类号：B23K26/064

分类号：B23K26/064;B23K26/082;B23K26/03;B23K26/24

优先权：["20180719 US 62/700,606","20190528 US 62/853,368"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.29#实质审查的生效;2024.03.12#公开

摘要：系统和方法可以用于监视和或控制在摆动图案中移动工艺光束的材料处理，例如摆动焊接工艺。当至少一个工艺光束根据工件的处理部位例如，焊接部位上的摆动图案移动时，内联相干成像ICI系统将成像光束至少部分地独立于工艺光束移动到摆动图案上的一个或多个测量位置并在那些位置上获得ICI测量值例如，深度测量值。ICI测量值可以用于例如评估焊接工艺期间的小孔和或熔体池特性。尽管本申请描述了摆动焊接工艺，但是本文描述的系统和方法也可以与在包括但不限于增材制造、标记和材料去除的处理期间激光或其他能量光束被摆动或抖动的其他材料处理应用一起使用。

主权项：1.一种激光材料处理系统，包括：材料改性光束源，所述材料改性光束源用于产生工艺光束；处理头，所述处理头联接到所述材料改性光束源并且包括至少一个工艺光束扫描致动器，所述至少一个工艺光束扫描致动器用于在工件的处理部位上根据摆动图案沿至少一个轴线来引导和移动所述工艺光束；内联相干成像系统，所述内联相干成像系统光学地联接到所述处理头，并且所述内联相干成像系统包括至少一个成像光束扫描致动器，所述至少一个成像光束扫描致动器被配置成独立于所述工艺光束使所述成像光束定位；以及控制系统，所述控制系统用于至少控制所述材料改性光束源、所述工艺光束扫描致动器和所述成像光束扫描致动器，其中，所述控制系统被编程为使所述处理头在所述摆动图案中扫描所述工艺光束，并且所述控制系统被编程为使所述成像光束扫描致动器将所述成像光束与所述摆动图案协同地移动到所述处理部位上的多个测量位置。

全文数据：

权利要求：

百度查询： IPG光子公司 使用内联相干成像（ICI）监视和/或控制摆动处理的系统和方法

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